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Ultraschall-Wand- und Schichtdickenmessgerät TI-CMX Series
Wanddickenmessung auf Ultraschall-Dickenmessgerät TI-CMX
Ultraschall-Dickenmessgerät mit Datenaufzeichnung TI-CMXDL
Ultraschall-Dickenmessgerät mit A-Scan-Display TI-CMXDLP
Ultraschall-Dickenmessgerät mit Farb-A-Scan TI-CMXDLP-C
Ultraschall-Doppelelementprüfköpfe für Dickenmessungen TI-CMX Series
Getrennte Anzeige von Wand- und Schichtdicke TI-CMX Series
USB-Anschluss am Ultraschall-Dickenmessgerät TI-CMX Series
- Ultraschall-Dickenmessgerät TI-CMX Series (gewähltes Modell)
- Doppelelementprüfkopf T-102-2900 für Beschichtungsmessungen oder Hochtemperaturprüfkopf T-102-2900-H bei -H-Ausführungen
- Ultraschall-Koppelmittel
- AA-Batterien
- Transportkoffer
- Bedienungsanleitung
- Kalibrierzertifikat
- PC-Software und USB-Kabel
Die TI-CMX Series nutzt unterschiedliche Ultraschall-Messverfahren für beschichtete und unbeschichtete Werkstoffe. Welcher Messmodus geeignet ist, hängt davon ab, ob die Wanddicke, die Schichtdicke oder beide Größen bestimmt werden sollen.
| Messmodus | Messprinzip und Anwendung |
|---|---|
Pulse-Echo (P-E)
|
Bestimmt die Werkstoffdicke anhand der Laufzeit eines Ultraschallimpulses, der von der gegenüberliegenden Materialoberfläche reflektiert wird. Das Verfahren wird für allgemeine Wanddickenmessungen und Korrosionsprüfungen eingesetzt. Oberflächenbeschichtungen können das Messergebnis beeinflussen. |
Pulse-Echo mit Beschichtungsmessung (PECT)
|
Misst und zeigt Werkstoff- und Schichtdicke getrennt an, wenn ein geeigneter Beschichtungsprüfkopf verwendet wird. |
Echo-Echo (E-E)
|
Misst das Zeitintervall zwischen aufeinanderfolgenden Rückwandechos, um die Werkstoffdicke durch eine Beschichtung hindurch zu bestimmen, ohne die Beschichtungsdicke in das Ergebnis einzubeziehen. |
Echo-Echo Verify (E-EV)
|
Nutzt zusätzliche Informationen aus Rückwandechos, um die Dickenmessung zu überprüfen. Die Verfügbarkeit hängt von der Geräteausführung ab. |
Temperaturkompensiertes Pulse-Echo (PETP)
|
Kompensiert Veränderungen der Ultraschallgeschwindigkeit, die mit Änderungen der Werkstofftemperatur zusammenhängen, mithilfe der Temperaturkompensationsfunktion des Geräts. |
Nur Schichtdicke (CT)
|
Misst die Dicke einer geeigneten Beschichtung mit einem für Beschichtungsmessungen ausgelegten Prüfkopf. |
Die Messleistung hängt vom Werkstoff, der Beschichtung, dem Oberflächenzustand, der Kalibrierung und dem gewählten Prüfkopf ab. Nicht jeder Messmodus eignet sich für jede Prüfaufgabe.
Ultraschall-Doppelelementprüfköpfe verfügen über getrennte Sende- und Empfangselemente. Dadurch eignen sie sich für Korrosionsprüfungen und Wanddickenmessungen, bei denen der Oberflächenzustand und die Werkstückgeometrie das Ultraschallsignal beeinflussen können.
Der Standardprüfkopf T-102-2900 ist ein 1/4-inch-Doppelelementprüfkopf mit 5 MHz, der für die Beschichtungsmessfunktionen der TI-CMX Series ausgelegt ist. Für unterschiedliche Messanforderungen sind weitere Prüfkopfdurchmesser und Frequenzen erhältlich.
Wenn Sie Werkstoff- und Schichtdicke gleichzeitig messen möchten, wählen Sie einen für Beschichtungsmessungen geeigneten Prüfkopf. Berücksichtigen Sie bei der Auswahl den Werkstoff, die erwartete Dicke, die Geometrie und die Prüftemperatur.
Verfügbare Prüfköpfe
| Prüfkopf | Beschreibung |
|---|---|
T-101-2900 |
3/16-inch-Prüfkopf, 5 MHz |
T-102-2900 |
1/4-inch-Prüfkopf, 5 MHz, für Beschichtungsmessungen; Standardprüfkopf |
T-102-2900-2M |
1/4-inch-Prüfkopf, 5 MHz, mit 2 m Kabel |
T-102-3900 |
1/4-inch-Prüfkopf, 7,5 MHz |
T-104-2900 |
1/2-inch-Prüfkopf, 5 MHz, für große Wanddicken |
T-104-9900 |
1/2-inch-Prüfkopf, 3,5 MHz, für Gusseisen und Kunststoffe |
 |
 |
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 |
 |
Scanmodus |
B-Scan |
RF A-Scan |
Gleichgerichteter A-Scan |
Gleichgerichteter A-Scan, Menü ausgeblendet |
Bei allen Modellen der TI-CMX Series verfügbar |
Bei allen Modellen der TI-CMX Series verfügbar |
Bei TI-CMXDLP und TI-CMXDLP-C verfügbar |
Bei TI-CMXDLP und TI-CMXDLP-C verfügbar |
Bei TI-CMXDLP und TI-CMXDLP-C verfügbar |
Das TI-CMXDLP-C zeigt den A-Scan in Farbe im Hoch- oder Querformat an.
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